MOSFET常見問題問答:
問題1:MOSFET主要用在哪些產(chǎn)品上?
答:MOSFET一般就理解為 半導(dǎo)體場效晶體管,根據(jù)用途可以細(xì)分很多類,因此應(yīng)用很廣泛的、MOSFET 絕大多數(shù)都是作為開關(guān)器件,應(yīng)用在開關(guān)電源類產(chǎn)品上,例如:筆記本電腦適配器,電視/圖像顯示器電源,手機充電器,PC電源,服務(wù)器電源,通訊基站,電動車電源,充電站,太陽能光伏逆變器,工業(yè)電焊機,電磁爐,空調(diào),LED驅(qū)動,馬達控制等等。也有應(yīng)用于功率放大作用的,比如功放產(chǎn)品,音響設(shè)備等,相比較而言,所占的比例很小。
問題2:MOSFET的特點,和優(yōu)勢?
答:MOSFET是電壓型開關(guān)器件,多數(shù)載流子導(dǎo)電器件。相比較于BJT, 開關(guān)速度快,易驅(qū)動,熱穩(wěn)定性好。MOSFET不存在二次擊穿限制,能夠應(yīng)用于短時間內(nèi)的高電壓,和大電流的場合,MOSFET導(dǎo)通電阻的正溫度系數(shù)特性,相比較于BJT,更容易并聯(lián)使用。相比較于BJT,耐壓不能做得很高,導(dǎo)通損耗大。
問題3:MOSFET需要通過安規(guī)認(rèn)證嗎?
答:MOSFET作為功率開關(guān)器件,沒有強制性的安規(guī)認(rèn)證,但在做電源產(chǎn)品安規(guī)認(rèn)證時,通常在關(guān)鍵元器件清單上注明MOSFET的型號,規(guī)格,廠商等報備信息,因為MOSFET對產(chǎn)品安規(guī)測試,和電磁兼容測試結(jié)果影響很大。在做ABNORMAL測試時,MOSFET可以損壞,但不允許發(fā)生起火,暴炸等危害人體安全的事故,通常前級都有保險管,斷路器等保護措施。
問題4:電源的能效標(biāo)準(zhǔn)對MOSFET有沒有要求?
答:各個國家都有各自的能效標(biāo)準(zhǔn),能效標(biāo)準(zhǔn)是對整機的的空載損耗,和不同功率等級的半載,滿載平均效率提出的要求; MOSFET只是電源整機的一個功率器件,對電源的能效有影響,但不是絕對的,新的電源控制IC,和設(shè)計技術(shù),ZVS, ZCS, QR, TM,幫助提高產(chǎn)品的能效;還有LOW VF的肖特基,SiC 二極管,同步整流技術(shù),為了提高能效;CoolMOS,Lower RDSON降低導(dǎo)通損耗,Lower Qg降低開通,關(guān)斷損耗,對提升能效有幫助,但不是絕對的。通常在電源方案設(shè)計,和元器件選型方面,綜合考慮性價比,和規(guī)格要求之間做權(quán)衡。
問題5:MOSFET品質(zhì)的好壞,如何辨別?
答:產(chǎn)品的可靠性,產(chǎn)品的一致性,封裝廠生產(chǎn)能力、指標(biāo)的控制,都會對產(chǎn)品的品質(zhì)產(chǎn)生影響。我們的產(chǎn)品,都按照通用的可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),經(jīng)過相關(guān)的測試驗證;生產(chǎn)制程、和指標(biāo)的控制都采用相同的標(biāo)準(zhǔn);生產(chǎn)能力相關(guān)的指標(biāo)。我們的CPK值控制在≥1.33;EAS ----單次雪崩擊穿能量,我們的SJMOS產(chǎn)品抗雪崩擊穿能力和InfineonE6系列產(chǎn)品相當(dāng)。實際應(yīng)用端(電源類產(chǎn)品)驗證,頻繁開關(guān)機,老化,輸出短路保護狀態(tài)下異常測試。
問題6:MOSFET壽命評估
答:MOSFET屬于不可維修的元器件,適用于MTTF來進行壽命評估MTTF---Meantime To Failure, 壽命終止的平均故障時間,適用于不可維修的元器件,和材料,通常要求的都是長壽命;MTBF---Meantime Between Failure, 平均失效時間間隔。適用于可維修的產(chǎn)品,和設(shè)備(可維修的電源類設(shè)備);對于元器件,通常電解電容,生產(chǎn)廠家會在規(guī)格書上標(biāo)明在額定條件下的預(yù)估壽命,但在實際使用壞境下,若降額使用,使用壽命會成倍增加;繼電器,家里用的機械開關(guān)屬于有機械動作裝置的產(chǎn)品,都有開關(guān)次數(shù)的限制。半導(dǎo)體元器件,(Mosfet, Diode, IC, etc.), 也有壽命終結(jié)的限制,比如材料會老化, 參數(shù)特性會下降,在產(chǎn)品設(shè)計的時候,都有降額的要求。
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