中國(guó)集成電路測(cè)試?yán)碚摲椒ǖ难芯颗c軟件工具開(kāi)發(fā)--麗晶微定時(shí)IC、定時(shí)芯片
世界上半導(dǎo)體集成電路測(cè)試如今已形成三個(gè)領(lǐng)域,《1》測(cè)試系統(tǒng)的制造。《2》測(cè)試程序的開(kāi)發(fā)與
檢測(cè)服務(wù)。《3》測(cè)試?yán)碚摲椒ǖ难芯恐拒浖ぞ唛_(kāi)發(fā)。
在中國(guó)對(duì)集成電路測(cè)試?yán)碚撆c方法的研究以高等學(xué)校和研究所為主,如中科院計(jì)算所、復(fù)旦大學(xué)、杭
州電子工業(yè)學(xué)院、重慶大學(xué)、上海交通大學(xué)和北京自動(dòng)化測(cè)試所。
研究的課題有多個(gè)方面,各種集成電路的測(cè)試生成方法,故障模擬方法,測(cè)試碼的評(píng)估與優(yōu)化,電路
的易測(cè)試分析,電路的層次性可測(cè)性設(shè)計(jì),神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)專家系統(tǒng)的方法等。同時(shí)研制了相應(yīng)煌軟件系統(tǒng),例
如:中科院計(jì)算所的大型數(shù)字電路測(cè)試生成系統(tǒng),內(nèi)有SCTM可油性分析系統(tǒng)、CPTTG零件路徑跟蹤測(cè)試產(chǎn)生
系統(tǒng)、APPCPT平行碼臨界路徑跟蹤故障模擬系統(tǒng)等,復(fù)旦大學(xué)的數(shù)字集成電路層次式測(cè)試生成系統(tǒng),電子科
技大學(xué)的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試生成系統(tǒng),重慶大學(xué)的微處理器功能測(cè)試序列自動(dòng)生成系統(tǒng)等。一些軟件系統(tǒng)
曾為本單位設(shè)計(jì)新IC時(shí)產(chǎn)生過(guò)測(cè)試碼,如復(fù)旦大學(xué)的FD-3系統(tǒng)。多數(shù)軟件系統(tǒng)目前尚未完善成熟為產(chǎn)品。各單
位在研究者在國(guó)內(nèi)外發(fā)表過(guò)較多的論文,其中如臨界路徑跟蹤、主路徑敏化法等,在國(guó)際上引起重視,影響
良好。
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