中國(guó)半導(dǎo)體集成電路測(cè)試系統(tǒng)制造--麗晶微定時(shí)IC、定時(shí)芯片

世界上半導(dǎo)體集成電路測(cè)試如今已形成三個(gè)領(lǐng)域，《1》測(cè)試系統(tǒng)的制造。《2》測(cè)試程序的開(kāi)發(fā)與
檢測(cè)服務(wù)。《3》測(cè)試?yán)碚摲椒ǖ难芯颗c軟件工具開(kāi)發(fā)。

早期中國(guó)的測(cè)試制造系統(tǒng)基本靠引進(jìn)，20世紀(jì)80年代中開(kāi)始有國(guó)產(chǎn)的中小型測(cè)試系統(tǒng)，并逐步取替
進(jìn)口產(chǎn)品。90年代后，中國(guó)已有多家生產(chǎn)中小型測(cè)試系統(tǒng)的公司。同時(shí)，由科技攻關(guān)成果轉(zhuǎn)化的中高檔測(cè)
試系統(tǒng)問(wèn)世，以良好的性價(jià)比進(jìn)入市場(chǎng)。

目前中國(guó)應(yīng)用測(cè)試系統(tǒng)的情況大致是：規(guī)模較大的集成電路生產(chǎn)公司與設(shè)計(jì)公司，以及一些元器件
檢測(cè)站中，主要配置國(guó)際有名的大中型測(cè)試系統(tǒng)。模擬混合電路測(cè)試系統(tǒng)大都采用了dsp技術(shù)提高測(cè)試準(zhǔn)
確度和速度。這些大中型測(cè)試要用于器件的成品測(cè)試及新品種的設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試。由于進(jìn)口測(cè)試系統(tǒng)昂貴，
在市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)推動(dòng)下，一些單位則選用性價(jià)比高的國(guó)產(chǎn)中高檔測(cè)試系統(tǒng)。

中國(guó)整機(jī)廠的入廠檢測(cè)和器件廠的中間測(cè)試多采用中小型測(cè)試系統(tǒng)，早年也是靠引進(jìn)。國(guó)產(chǎn)的研發(fā)
較晚，北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所是中國(guó)唯一從事集成電路測(cè)試技術(shù)研究、開(kāi)發(fā)與應(yīng)用的專(zhuān)業(yè)研究所。該所
聯(lián)合國(guó)內(nèi)同行，在國(guó)家六五、七五和八五重點(diǎn)科技攻關(guān)中，研制成大型存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)、大型數(shù)字電路測(cè)
試系統(tǒng)，以及各類(lèi)中型、中小型測(cè)試系統(tǒng)。最新的BC3190大型數(shù)字電路測(cè)試系統(tǒng)采用了每管腳定時(shí)、事件
驅(qū)動(dòng)的國(guó)際先進(jìn)體系結(jié)構(gòu)，達(dá)到最高事件率100MHz、最高數(shù)據(jù)速率40MHz。總定時(shí)精度正負(fù)0.75ns。在國(guó)內(nèi)
領(lǐng)先。在完成這些任務(wù)的過(guò)程中，該所培養(yǎng)了一支掌握集成電路測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)技術(shù)的年青隊(duì)伍，這批技術(shù)
人才在所內(nèi)、外的各個(gè)公司中，為促進(jìn)科技成果產(chǎn)品化、商品化，以及進(jìn)一步開(kāi)發(fā)產(chǎn)品發(fā)揮了不少作用。

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