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中國集成電路測試理論方法的研究與軟件工具開發--麗晶微定時IC、定時芯片

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掃一掃!中國集成電路測試理論方法的研究與軟件工具開發--麗晶微定時IC、定時芯片掃一掃!
瀏覽:- 發布日期:2016-09-22 09:43:08【

                                   中國集成電路測試理論方法的研究與軟件工具開發--麗晶微定時IC定時芯片

      世界上半導體集成電路測試如今已形成三個領域,《1》測試系統的制造。《2》測試程序的開發與
檢測服務。《3》測試理論方法的研究與軟件工具開發。

在中國對集成電路測試理論與方法的研究以高等學校和研究所為主,如中科院計算所、復旦大學、杭
州電子工業學院、重慶大學、上海交通大學和北京自動化測試所。

      研究的課題有多個方面,各種集成電路的測試生成方法,故障模擬方法,測試碼的評估與優化,電路
的易測試分析,電路的層次性可測性設計,神經網絡專家系統的方法等。同時研制了相應煌軟件系統,例
如:中科院計算所的大型數字電路測試生成系統,內有SCTM可油性分析系統、CPTTG零件路徑跟蹤測試產生
系統、APPCPT平行碼臨界路徑跟蹤故障模擬系統等,復旦大學的數字集成電路層次式測試生成系統,電子科
技大學的基于神經網絡的測試生成系統,重慶大學的微處理器功能測試序列自動生成系統等。一些軟件系統
曾為本單位設計新IC時產生過測試碼,如復旦大學的FD-3系統。多數軟件系統目前尚未完善成熟為產品。各單
位在研究者在國內外發表過較多的論文,其中如臨界路徑跟蹤、主路徑敏化法等,在國際上引起重視,影響
良好。

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